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——材质鉴定检测是一个系统性的科学分析过程,其核心目标是确定材料的化学成分、微观结构、物理性能等
整个过程遵循 “宏观到微观”、“无损到有损”、“多种技术联用、相互验证” 的原则
一、 检测前准备:明确目标与样品观察
明确鉴定目的:
您想知道什么?是主成分?杂质或污染物?材料牌号?还是失效原因?目的不同,选择的检测方法和流程完全不同。
样品信息收集与宏观观察:
记录:样品的物理状态(固体、液体、粉末)、颜色、手感、气味、磁性、大致密度等。
观察:使用放大镜或体视显微镜观察样品的形态、纹理、是否有多层结构、缺陷、污染物位置等。
取样与制样:
代表性:取样必须能代表整体材料。分析污染物时,需同时取正常部位进行对比。
避免污染:使用清洁的工具取样,避免用手直接触摸待测区域。
二、 选择检测方法与流程(核心技术)
1. 成分与结构分析 (Composition & Structure Analysis)
傅里叶变换红外光谱 (FTIR)
用途:鉴定有机物(塑料、橡胶、涂料、胶粘剂等)的官能团和化学键,是鉴别高分子材料种类的“第一利器”。
优点:速度快、样品量少、无损。
X射线荧光光谱 (XRF)
用途:元素分析的首选无损方法。可用于分析从钠(Na)到铀(U)的元素,给出材料的元素种类和大致含量(半定量)。
优点:快速、无损、无需复杂前处理。非常适合分析金属合金、无机填料、陶瓷、玻璃等。
扫描电子显微镜 - X射线能谱仪 (SEM-EDS)
SEM:提供高分辨率的微观形貌图像(可达纳米级别),观察表面结构、断口特征等。
EDS:与SEM联用,可对显微镜下看到的微小区域进行元素定性和定量分析。
用途:
优点:形貌和成分分析完美结合,非常直观。常用于分析夹杂物、镀层厚度、相分布等。
X射线衍射分析 (XRD)
用途:鉴定结晶性物质的晶体结构和物相组成。它能告诉你物质是什么(如二氧化硅是石英还是方石英),而不仅仅是含有哪些元素。
优点:物相分析的“金标准”,无损。用于分析矿物、金属相、药品晶型等。
2. 热性能分析 (Thermal Analysis)
热重分析 (TGA)
用途:测量材料质量随温度升高的变化情况。用于测定材料中不同组分的含量,如水分、挥发分、聚合物含量、无机填料含量、炭黑含量等。
差示扫描量热法 (DSC)
用途:测量材料在加热/冷却过程中的热流变化。用于研究材料的玻璃化转变温度(Tg)、熔点、结晶度、固化反应等。是评价高分子材料热性能的关键指标。
3. 分子级精细结构分析 (Molecular Analysis)
气相色谱-质谱联用 (GC-MS) / 液相色谱-质谱联用 (LC-MS)
用途:GC-MS适用于分析易挥发的有机小分子(如溶剂、增塑剂、单体残留)。LC-MS适用于分析难挥发的大分子(如添加剂、聚合物杂质、表面活性剂)。两者都能对复杂混合物进行分离和鉴定。
核磁共振波谱 (NMR)
用途:有机化合物结构分析的“终极手段”。可以提供分子中碳、氢等原子的连接方式、数量及周围环境的详细信息,用于最终确认分子结构。
缺点:仪器昂贵,对样品纯度和量有要求。
三、 综合解析与报告生成
这是最考验经验的步骤。将来自不同仪器的数据碎片拼合成完整的证据链,得出最终结论。





